全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀 二手ICP OES 730-ES

儀器介紹

安捷倫720/730系列ICP-OES提zui出色的性能、分析速度和操作靈活性。其核心在于配置專利的定制CCD檢測器，它能為您提供無與倫比的高效率。配合一系列附件增強儀器性能，該系列儀器能滿足您zui苛刻的需求——無論是現在還是將來。安捷倫720/730 系列 ICP-OES 是世jie上性能zui優異的全譜直讀 ICPOES。
 

全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀二手ICP OES 730-ES

儀器硬件

樣品引入系統
包括可以在低氣體流量和低電壓下獲得高精密度和高靈敏度的標準一體化石英氣炬。定購光譜儀時可對樣品引入系統進行選擇。 可選類型包括:

情性雙通道氣旋霧化室和V形槽霧化器(僅用于徑向)
玻璃雙通道氣旋霧化室和SeaSpray霧化器(徑向和軸向均可使用)
玻璃單通i道氣旋霧化室和SeaSpray霧化器(僅用于軸向)
玻璃單通道氣旋霧化室和Conikal霧化器(僅用于軸向)
全電腦控制蠕動泵，速度變化范園為0-50 rpm, 具有三或四個通道，分別用于上樣，排廢、內標/電離緩沖液以及SVS快速沖洗液
選配部分或完全可拆卸氣炬，配備玻璃或陶瓷注射管,高固體氣炬和全玻璃樣品導入系統

氣體控制
軟件采用轉換流量控制器控制等離子和輔助氣流量。為防止燃氣故障。此系統采用完全聯鎖。
霧化氣:軟件控制氣體流量，采用高精度調壓器實現流量控制。或采用計算機實現質量流控制(MFC) (730/735 型儀器標配MFC)。以0.01升/分鐘的增量實現0-1.3升/分鐘的流量控制(采用MFC時)等離子氣:以1.5升/分鐘的增量實現0.22 5升/分鐘的流量控制。
輔助氣:以0.75升/分鐘的增量實現0-2.25升/分鐘的流量控制

射頻(RF)發生器
40 MHz獨立運行的空氣冷卻射頻發生器。輸出功率為700-1500 W,以50 W為增量。不同樣品類型的每個方法中包含特定的優化電源設置 射頻耦合效率大于75%
根據用戶自定義的點火程序進行自動點火和熄滅
功率輸出穩定性優于0.1%

等離子體配置
徑向觀測系統(725/735 ICP-OES)
垂直方向的徑向等離子體觀測系統是高難度應用包括油和有機溶劑分
析，地質/金屬消解物和高總溶解固體(TDS)溶液例如海水的理想選擇。通過全電腦控制等離子體觀測高度(0-20 毫米)和水平調節(約3毫米) 來優化靈敏度和最小化干擾。通過電腦控制調節觀測高度以滿足每個波長的需求。

軸向觀測系統(720/730 ICP-OES)
水平方向的軸向等離子體觀測系統適宜于高靈敏度分析。較徑向觀測系統相比，它將檢測限提高了3-12倍。軸向等離子體觀測系統擁有獨特的冷錐接口(CCI)， 防止光學系統觀測到更冷的等離子尾焰。相對于傳統的軸向系統減少了干擾，提高了系統耐高溶解固體能力并擴展了線性動態范圍。較之剪切氣體系統，CCI 是更優的等離子接口，具有較低的運行成本。通過電腦控制調整等離子體在X. Y方向上的觀測位置。

光學系統
計算機優化且無移動部件的中階梯光柵光學設計確保最低的檢測限和最高的穩定性400毫米焦距多色器恒溫到35 °C以保證優異的穩定性。通過CaF2棱鏡橫向色散器和中階梯光柵(94.74 線/毫米)得到的光柵圖(70級)投影到專為用戶設計的CCD檢測器上電腦控制的標準多色器吹掃速度為0.75升/分鐘。對波長低于185納米的發射線用3升/分鐘加速吹掃。可用氬氣或氮氣吹掃(720/725要求選配氮氣吹掃套件)

CCD檢測器
專為用戶設計的CCD檢測器。采用了圖像映射技術(1-MAP) .提供167-785 nm的全波長覆蓋。檢測器安裝在三階Peltier裝置上.冷卻至零下35度以降低暗電流和噪音
自適應積分技術(AIT) 允許在最佳信噪比條件下同時測定強信號和微弱信號，該技術能夠自動為每-一個所選波長分配一一個像素讀取時間一越強的峰分配的積分時間越短，越弱的峰分配的積分時間越長。和傳統同步系統依次排列讀取步像不同，自適應積分技術能夠在同一時間完成所有讀取步驟，從而提供真正的同步測量專為用戶設計的檢測器擁有任意光譜CCD檢測器所能達到的最快讀出速度一即用1 MHz的時鐘速度處理像素。對檢測器上所有像素進行完全采集的總讀取時間為0.8 秒左右。檢測器兩側提供雙向讀取電路，使讀取處理時間減少一半   CCD檢測器的每個像素都有防溢流保護。這使得強信號和附近痕量分析物的弱信號能同時得到測定        

全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀二手ICP OES 730-ES

儀器軟件

特點

ICP Expert II 是-個易用的網絡集成式儀器軟件包。內置向導功能指導用戶進行方法和序列的建立,提供的方法模板有利于常用方法的快速開發:
●電腦控制等離子氣體流量.等離子體觀測位置.點火、RF電源.安全聯鎖和程序監測
●可選多種背景校正技術，從傳統的峰下背景校正到獨yi無二的擬合背景校正
●快速自動曲線擬合技術(FACT)用于復雜光譜的在線光譜去卷積AutoMax 自動優化關鍵的儀器參數

●SmartRinse 優化樣晶間的沖洗時間，提高分析效率
●MultiCal有助于擴展線性動態范圈和對結果的自動驗證時間分辨信號(TRS) 功能用于與色譜(如HPLC)及其他分離技術相聯系
●常規校準程序適用于多元素外標分析法和標準加入法

●重校斜率避免了完全重新校正的需要
●專為滿足US EPA和其它國際標準設計的用戶可編輯的質量控制方法(QCP)
●完全可編輯的樣品標簽列表，包括可選的用戶標簽和批標簽

●待測樣品和校正樣品/QC溶液的重量/體積/稀釋校正因子及用戶自定義濃度單位的轉換功能
●自動樣品架和管位能夠編輯，實現真正的隨意進樣能夠以用戶指定的速率來安排校正標樣，可位于樣品管位置或中央校正管中(速率驅動)
●微軟SQL Server 2005 Express實現結果的安全儲存和快速查找

●運行后回顧性數據編輯
●用戶可定制的多種報告和輸出選項
●提供可選的軟件以幫助達到美國食品藥品管理局(FDA) 聯邦法規21章第11條款對跟蹤審核、電子簽名以及訪問權限的要求  

全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀二手ICP OES 730-ES

分析性能

預熱時間
待機模式下預熱時間為20分鐘，其中包括從點火開始的< 10分鐘的等離子體穩定時間。

雜散光
通過隔板和光學設計消除雜散光，使188 980 nm處的小于2.0 ppm的有效As (砷)信號能從1000 ppm Ca信號下檢出。

信號穩定性
無內標校正或任何形式的偏移校正的情況下，8小時內典型的信號漂移小于1% RSD。

典型分辨率(FWHM)
元素            波長(nm）      分辨率(nm)

砷                188. 980             <7
鉬                202.032              <7.2
鋅                213.857              <8
鉛                220. 353             <8.2
鉻                267.716              <10
銅                327.396              <13
鋇                614.172              <38