合作伙伴：安徽某半導體材料廠

儀器類型：氣質聯用儀 ，離子色譜

品牌：安捷倫 賽默飛

型號： 7890A-5975C 

2025年01月11日， 安徽某半導體材料廠購買我司1，安捷倫氣質聯用儀（GCMS） 7890A-5975C ＋吹掃捕集 ； 2，賽默飛（戴安）離子色譜 （陰陽離子各一套）安裝培訓調試完畢，感謝客戶的支持與認可

使用安捷倫氣質聯用儀GCMS7890A-5975C配合吹掃捕集來分析半導體材料，整體來說是比較合適的，以下是具體分析：

儀器性能優(yōu)勢

高靈敏度：5975C質譜檢測器具有高靈敏度，能夠檢測飛摩爾級別的化合物。這對于半導體材料中痕量雜質的檢測非常重要，因為這些雜質雖然含量很低，但可能會對半導體器件的性能產生重大影響。

高分辨率與寬質量范圍：5975C提供高分辨能力，確保復雜樣品中化合物的準確識別，其質量數范圍為1.6-1050amu。半導體材料的成分復雜，不同的元素和化合物可能會在相近的質量數下出現，高分辨率有助于將它們區(qū)分開來，從而準確地進行定性和定量分析。

快速掃描速率：掃描速率可達12500 amu/秒，適合快速分析和瞬態(tài)信號的捕捉。在半導體材料的生產過程中，需要快速得到分析結果以便及時調整工藝參數，該儀器的快速掃描速率能夠滿足這一需求。

電子氣路控制：7890A GC采用的EPC技術，提供準確的氣路壓力控制，提高保留時間性。這有助于獲得更穩(wěn)定、可重復的色譜分離效果，對于半導體材料這類需要嚴格質量控制的樣品分析至關重要。

吹掃捕集的應用優(yōu)勢

適用于揮發(fā)性有機物分析：吹掃捕集是一種常用的樣品前處理技術，特別適合于揮發(fā)性有機物的富集和分析。半導體材料在生產過程中可能會使用到各種有機溶劑，或者在材料表面殘留有揮發(fā)性有機雜質，通過吹掃捕集可以將這些揮發(fā)性有機物有效地富集起來，然后進行后續(xù)的氣質聯用分析。

無需溶劑萃?。号c傳統(tǒng)的溶劑萃取等前處理方法相比，吹掃捕集無需使用有機溶劑，避免了溶劑帶來的干擾和污染。這對于半導體材料的分析尤為重要，因為任何額外的雜質都可能影響分析結果的準確性。

自動化程度高：吹掃捕集裝置可以與GCMS7890A-5975C實現自動化連接和控制，減少了人工操作的誤差，提高了分析效率。在半導體材料的批量檢測中，自動化程度高的前處理方法可以大大提高工作效率，確保分析結果的一致性。

使用賽默飛（戴安）陰陽離子離子色譜儀分析半導體材料具有多方面的優(yōu)勢，

高效高容量色譜柱：賽默飛自主研發(fā)和生產的高效高容量離子色譜柱，可滿足各種分析條件下相關組分的分離要求，具有柱效高、柱容量大的特點，能改善弱保留組分分離，對于高基濃度的樣品中痕量組分分離優(yōu)勢突出，且可百分兼容反相有機溶劑，適應pH范圍0-14，使用壽命是普通分析柱的2-4倍。

在線電解淋洗液發(fā)生器：如RFC-30在線電解淋洗液發(fā)生器，可提供用于陰離子分離的KOH（NaOH，LiOH，或CO32?/HCO??）以及陽離子分離的MSA淋洗液，濃度范圍0.1-100 mM，泵只通過高純去離子水，可延長泵及密封圈的使用壽命，采用變色龍軟件控制及診斷錯誤。

自動電解連續(xù)再生微膜抑制器：使用該抑制器無需配制再生液，可實現連續(xù)自動再生功能，兼容梯度淋洗，改善基線漂移，且抑制器死體積小，柱后死體積小，峰型更加尖銳，無論標準溶液還是樣品，均采用同一抑制器，重現性結果非常穩(wěn)定，無硫酸殘留問題，適合痕量樣品的分析。

變色龍軟件：變色龍（Chromeleon?）軟件可為離子色譜提供智能操作與數據處理平臺，不僅可實現對儀器的實時操作與監(jiān)控，還能快速便捷地協助用戶完成從進樣到數據處理的整個過程。

半導體材料分析應用

痕量無機陰陽離子檢測：賽默飛不斷開發(fā)各類半導體材料中痕量無機陰離子、陽離子和金屬離子的檢測方案，為半導體集成電路制造行業(yè)提供多種解決方案，在晶圓表面清洗化學品、晶圓制程化學品等的檢測中發(fā)揮重要作用。

多種樣品分析：離子色譜法可同時檢測樣品中的多種成分，對于半導體材料及其生產過程中的各種樣品，如生產用水、高純試劑等，能夠快速、準確地分析其中的陰陽離子含量，從而保證產品的品質和性能。

綜合分析能力

多種進樣方式選擇：GCMS7890A-5975C除了支持吹掃捕集進樣外，還具有分流/不分流進樣、填充柱進樣、冷柱頭進樣等多種進樣方式。這意味著可以根據不同的半導體材料樣品和分析需求，靈活選擇最合適的進樣方法，進一步提高分析的準確性和可靠性。

強大的數據處理系統(tǒng)：該儀器的數據處理系統(tǒng)功能強大，具有監(jiān)控和智能診斷功能，能夠進行手動/自動調諧、數據采集、數據檢索、分析結果報告、定量分析及譜庫檢索等多種操作。在分析半導體材料時，可以通過這些功能對大量的分析數據進行快速、準確的處理和解讀，為半導體材料的質量控制和研發(fā)提供有力的數據支持。